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布魯克推出新尺寸XR系列掃描探針顯微鏡

    布魯克11月28日推出Dimension XR?系列掃描探針顯微鏡(SPMs)。這些新系統包含主要的AFM創新,包括布魯克專利獨有的DataCube納米電子模式,用于能源研究的AFM-SECM,以及新的AFM-nDMA模式。
  

描述了原子力顯微鏡技術在納米尺度量化方面的重大進展

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  美國加利福尼亞州圣巴巴拉,布魯克于當地時間2018年11月28日宣布推出Dimension XR™系列掃描探針顯微鏡(SPMs)。這些新系統包含主要的AFM創新,包括布魯克專利獨有的DataCube納米電子模式,用于能源研究的AFM-SECM,以及新的AFM-nDMA模式,該模式首次將聚合物納米力學與體動態力學機械分析(DMA)相關聯。基于科學出版物中兩種世界上最常用的AFM平臺,Icon®和FastScan®,Dimension XR SPMs有三種配置,針對納米力學,納米電子和納米電化學應用進行了優化。這些系統顯著擴展了研究人員在空氣,流體,電氣和化學反應環境中量化納米級材料特性的能力。

  “新的Dimension XR系統是多年創新的結晶,提供定量和易用的納米機械,納米電子和納米電化學表征,”布魯克AFM業務執行副總裁兼總經理David V. Rossi闡述道。“我們的目標是讓研究界廣泛使用這些首要和唯一的功能,使其突破性AFM發現可以實現新的納米級信息。”


 


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